Industriële fabricage
Industrieel internet der dingen | Industriële materialen | Onderhoud en reparatie van apparatuur | Industriële programmering |
home  MfgRobots >> Industriële fabricage >  >> Industrial Internet of Things >> Sensor

Geavanceerde UV-fotoemissie-instrument detecteert oppervlakteverontreinigingen voor betrouwbare luchtvaarthechting

NASA Langley heeft een instrument ontwikkeld om lage niveaus van verontreiniging op gekromde of onregelmatig gevormde oppervlakken te meten. Het instrument biedt unieke mogelijkheden zoals de mogelijkheid om verontreiniging te identificeren en te kwantificeren en meerdere oppervlakken tegelijkertijd te analyseren. Deze informatie levert een analyse van de oppervlakteschonheid die nodig is voor betrouwbare lijmhechting in toepassingen zoals lichtgewicht vliegtuigen.

Het instrument richt ultraviolet (UV) straling op een oppervlak, wat een kleine elektrische stroom produceert. Het instrument meet die stroom terwijl deze verandert over een kort tijdsinterval. Door de stroom te analyseren, kan het verontreinigingsniveau op het oppervlak en de identificatie van de verontreinigende soort bepaald worden.

NASA zoekt actief licentiehouders om deze technologie te commercialiseren. Neem contact op met NASA's Licensing Concierge op Dit e-mailadres wordt beveiligd tegen spambots. U heeft JavaScript nodig om het te kunnen zien. of bel ons op 202-358-7432 om licentiegesprekken te initiëren. Volg deze link hier  voor meer informatie.


Sensor

  1. De Saxofoon: Geschiedenis, Ontwerp en Moderne Productie
  2. De Tuba: Van 19e-Eeuwse Innovatie tot Modern Vakmanschap
  3. De Dulcimer: Geschiedenis, Ontwerp en Vakmanschap van een Tijdloos Instrument
  4. Geavanceerde Golfvormanalyse met Winscope: Van Tijd‑ naar Frequentiedomein
  5. AC-Analyse Configuratie: Kurven, Punten en Frequentie-sweep Instellingen
  6. Component foutanalyse: Troubleshooting technieken voor serie- en parallelcircuits
  7. Vlakheidstolerantie in GD&T begrijpen: Zorgen voor precieze onderdelenfabricage
  8. GD&T Uitgelegd: Profiel van een Lijn vs. Profiel van een Oppervlak
  9. Hoe de Juiste Instrumentenknoopen voor Uw Apparatuur te Kiezen
  10. Diepte Thermografie: Nauwkeurige Interne Temperatuurmeting voor 3D Materialen
  11. Beheersing van dunne, parallelle optica: Meetuitdagingen overwinnen met precisie