NASA verbetert flitsthermografie: Snellere, diepere NDE met transiënte & lock-in technieken

Onderzoekers bij NASA Johnson verbeterden hun flitsthermografie-mogelijkheden door transiënte en lock-in thermografie te incorporeren in hun flitsthermografie NDE-technologie. Deze non-destructieve evaluatie (NDE) technologie identificeert fouten in materialen gebruikt in vliegtuigen, drones en gebouwen.

Door de transiënte thermografie-methode toe te voegen, die fouten in dikke delen sneller detecteert dan andere methoden, en de lock-in thermografie-methode, die een sinusvormige stroomcyclus gebruikt om een betere foutresolutie te bieden, heeft de flitsthermografie NDE-technologie-suite zijn toepasbaarheid uitgebreid naar andere veelgebruikte infraroodthermografietechnieken.

Bij het gebruik van de transiënte en lock-in methoden om materialen te evalueren, manifesteren variaties in de thermische diffusiviteit van het materiaal zich als afwijkingen in de infrarood (IR) afbeelding van het testoppervlak. Beide methoden worden specifiek gebruikt om dikker materiaal te analyseren dan mogelijk is met alleen flitsthermografie. Post-verwerking van deze ruwe IR-cameradata biedt gedetailleerde analyse van de grootte en karakterisering van afwijkingen.

Deze technologie omvat een software die uiterst nauwkeurige metingen biedt.

De piekcontrast- en piekcontrasttijdprofielen die door dit gegenereerd worden, bieden kwantitatieve interpretatie van de afbeeldingen inclusief gedetailleerde informatie over de grootte en vorm van de afwijkingen. De persistentie-energie- en persistentietijdprofielen bieden uiterst gevoelige data voor gedetecteerde afwijkingen. Piekcontrast, piektijd, persistentietijd en persistentie-energiemetingen maken ook monitoring van foutgroei en signaalrespons op foutgrootte-analyse mogelijk.

Deze technologie biedt meer uitgebreide, gedetailleerde en nauwkeurige NDE-detectie en karakterisering van onderoppervlakte defecten in niet-metallische composietmaterialen dan huidige methoden. Deze complete softwaresuite normaliseert en kalibreert de data, wat meer stabiele metingen biedt en de voorkoming van fouten door operator- en cameravariabiliteit reduceert.

NASA zoekt actief licentienemers om deze technologie te commercialiseren. Neem contact op met NASA's Licensing Concierge op Dit e-mailadres wordt beschermd tegen spambots. Je hebt JavaScript ingeschakeld om het te bekijken. of bel ons op 202-358-7432 om licentiegesprekken te initiëren. Volg deze link hier  voor meer informatie.