N-poort meting optimaliseren: Multiport VNA's vs. Switch Matrices

Veel ingenieurs vertrouwen op externe switch matrices om 2-poort VNA's uit te breiden voor multi-kanaal metingen - maar deze benadering komt met afwegingen in snelheid, nauwkeurigheid, en systeemcomplexiteit. Begrijpen wanneer deze afwegingen van belang zijn is cruciaal naarmate RF en high-speed digitale systemen blijven schalen.

Deze 60-minuten webinar biedt een duidelijke, praktische vergelijking tussen geswitched 2-poort en echte multiport VNA meetarchitecturen. Deelnemers leren hoe sweep count, insertieverlies, isolatie, en kalibratiecomplexiteit verschillen tussen benaderingen en hoe die verschillen real-world resultaten beïnvloeden. Door representatieve use cases te onderzoeken - inclusief kabelassemblages, beamforming arrays, en productietest van multi-kanaal apparaten - zal de sessie ingenieurs en testteams helpen de meest geschikte strategie voor hun meetdoelen te selecteren.

Kernonderwerpen:

• Beperkingen van geswitched 2-poort systemen
• Hoe echte N-poort metingen worden uitgevoerd
• Kalibratie strategieën voor grote poort aantallen
• Engineering en productietest implicaties

Een Q&A sessie volgt na de technische presentatie.

Sprekers:

Brian Walker, Senior RF Engineer, Copper Mountain Technologies

Brian Walker is de Senior RF Engineer, SME, bij Copper Mountain Technologies. Hij helpt klanten technische op te lossen en ontwikkelt nieuwe oplossingen voor VNA toepassingen in test en meting. Brian heeft 40 jaar RF Design ervaring. Hij was eerder Manager of RF Design bij Bird Electronics, waar hij een team van RF ontwerpers leidde en nieuwe en innovatieve producten creëerde. Daarvoor werkte hij voor de Motorola Component Products Group en was verantwoordelijk voor het ontwerp van keramische comb-line filters voor communicatieapparaten. Brian heeft een graad van de University of New Mexico en is een senior lid van de IEEE, die drie US octrooien heeft geautoriseerd.

Moderator:

Amanda Hosey, Editor, SAE Media Group